杭州三海电子有限公司

 
SPGD-G 光电耦合器老炼检测系统
 
 

符合标准:

    美军标MIL-STD-750《半导体器件试验方法》和相应国军标GJB128《半导体分立器件试验方法》相关要求。


适用范围:

    本系统适用于各种封装的单、双、四光电耦合器进行稳态输入恒流或输出恒功老炼试验。
   


工作特性:

    1、整机控制系统采用上、下位机通讯方式,上位机通过标准RS485接口,与16套下位机(单片机)进行通讯。
   
    2、每个通道输入恒流、输出恒功老炼方式任意设置。
   
    3、配置工控机,大屏幕液晶显示,Windows操作界面,器件库编辑、数据曲线描绘,简单方便,实时数据存储量大。
   
    4、每板可独立控制启动、暂停、继续、结束老炼。
   
    5、每块检测控制板对应一个老炼通道,实时控制和检测各工位的试验状态、试验参数、试验进程
   


 

技术指标:

试验温度 系统配置二个相互隔离的温度试验区域,通过试验腔和风道的合理设计,保证试验区内温度场的均匀性;
数字显示每个试验区域温度,可通过风机调速进行调节、控制
重量 约600Kg
试验容量 标准配置16个独立试验区,可同时进行16种不同种类、型号的光电耦合器试验;
每个试验区由一块老炼试验板和一块控制检测板组成
每块老炼试验板的试验电流监测工位为80个,电压监测共位为40个;
整机同时可插16块试验板,总计40位/块×16块640位。
检测控制板 检测每块板的试验电压,检测范围:0V~50V,检测精度:±1%+2LSB
检测每块板的试验电流,检测范围:1mA~100mA,检测精度:±1%+2LSB
老化试验电源及恒流源 整机标准配置1路共用的试验电源和8套双路老炼试验电源
 
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